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本低(di)溫(wen)試(shi)(shi)驗(yan)箱滿足GB2423.1-2001試(shi)(shi)驗(yan)A《高(gao)溫(wen)試(shi)(shi)驗(yan)方(fang)法》; GB2423.2-2001試(shi)(shi)驗(yan)B《低(di)溫(wen)試(shi)(shi)驗(yan)方(fang)法》以及其它相關標準的要求。嚴格按GB 10592—89《高(gao)低(di)溫(wen)試(shi)(shi)驗(yan)箱技術條件(jian)》進行設計制造,可進行相應高(gao)、低(di)溫(wen)環(huan)境試(shi)(shi)驗(yan)。
更新時間(jian):2016-07-30
在線留言本低溫試(shi)驗箱可以用來考核和確定電工電子產品或材料在溫度變化的環境條件下貯存和使用的適應性。設備采用強迫空氣循環來保持工作室內溫度的均勻性。
主要技術參數
l 型號: GDW-100D型
l 工作室尺寸(D×W×H): 450×450×500㎜
l 溫度范圍: -
l 溫度均勻度: ≤
l 溫度波動度: ±
l 溫度偏差: ≤±
l 升降溫速率: 0.7℃~
l 時間設定范圍: 0~999 小時
設備使用條件 l 環境溫度: l 環境濕度:≤85% l 電源要求:AC380( ±10%)V/50HZ 三相五線制 l 預裝容量:5KW
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