本低(di)(di)溫濕熱(re)試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)滿足GB2423.1－2001試(shi)(shi)驗(yan)A《高溫試(shi)(shi)驗(yan)方法》; GB2423.2－2001試(shi)(shi)驗(yan)B《低(di)(di)溫試(shi)(shi)驗(yan)方法》; GB2423.3－93試(shi)(shi)驗(yan)Ca《恒定濕熱(re)試(shi)(shi)驗(yan)方法》等國家標準，以及其它相關(guan)標準的(de)要求(qiu)。嚴格按(an)GB 10592—89《高低(di)(di)溫試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)技術(shu)條件(jian)》、GB10586－89《濕熱(re)試(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)技術(shu)條件(jian)》進(jin)行設計制造，可進(jin)行各種高低(di)(di)溫濕熱(re)環(huan)境試(shi)(shi)驗(yan)。
本低溫(wen)恒定(ding)濕(shi)熱(re)試驗(yan)箱可以用(yong)來考核和(he)確(que)定(ding)電工、電子產品或材料在規定(ding)的(de)溫(wen)度下(xia)，或濕(shi)熱(re)環(huan)境條件下(xia)貯存和(he)使用(yong)的(de)適應性(xing)(xing)。設備采用(yong)強迫空(kong)氣循環(huan)來保持工作(zuo)室內溫(wen)濕(shi)度的(de)均勻性(xing)(xing)。
低溫恒定濕(shi)(shi)熱(re)(re)箱可以用來(lai)考核和(he)確定電(dian)工、電(dian)子產品或材料(liao)在規定的(de)溫度(du)下，或濕(shi)(shi)熱(re)(re)環(huan)境條件下貯存(cun)和(he)使(shi)用的(de)適應性(xing)(xing)。設(she)(she)備采用強迫空氣循環(huan)來(lai)保持工作室(shi)內溫濕(shi)(shi)度(du)的(de)均勻(yun)性(xing)(xing)。為限制輻射影(ying)響，設(she)(she)備內壁各(ge)部分溫度(du)與(yu)試(shi)驗規定的(de)溫度(du)之差(cha)不大于8％，且(qie)試(shi)驗樣(yang)品不會受(shou)到設(she)(she)備內加熱(re)(re)與(yu)冷卻元件的(de)直接輻射。
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