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本高(gao)低溫(wen)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)廠(chang)家滿足(zu)GB2423.1－2001試(shi)(shi)(shi)驗(yan)A《高(gao)溫(wen)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)》; GB2423.2－2001試(shi)(shi)(shi)驗(yan)B《低溫(wen)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)方(fang)法(fa)》以(yi)及其它(ta)相(xiang)關標準的要求。嚴格按GB 10592—89《高(gao)低溫(wen)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)箱(xiang)技術條(tiao)件》進行設計(ji)制造，可進行相(xiang)應高(gao)、低溫(wen)環境試(shi)(shi)(shi)驗(yan)。
本濟南低溫(wen)試(shi)(shi)驗箱滿足GB2423.1－2001試(shi)(shi)驗A《高溫(wen)試(shi)(shi)驗方法》; GB2423.2－2001試(shi)(shi)驗B《低溫(wen)試(shi)(shi)驗方法》以及其它(ta)相關標(biao)準的要求。嚴格按GB 10592—89《低溫(wen)試(shi)(shi)驗箱技術條件》進行設計制(zhi)造(zao)，可(ke)進行相應(ying)高、低溫(wen)環境試(shi)(shi)驗。
本低(di)(di)溫濕(shi)熱試(shi)(shi)驗箱滿(man)足GB2423.1－2001試(shi)(shi)驗A《高(gao)(gao)溫試(shi)(shi)驗方法》; GB2423.2－2001試(shi)(shi)驗B《低(di)(di)溫試(shi)(shi)驗方法》; GB2423.3－93試(shi)(shi)驗Ca《恒定濕(shi)熱試(shi)(shi)驗方法》等國家標(biao)準，以(yi)及其(qi)它相關標(biao)準的要求。嚴(yan)格按GB 10592—89《高(gao)(gao)低(di)(di)溫試(shi)(shi)驗箱技術(shu)條件》、GB10586－89《濕(shi)熱試(shi)(shi)驗箱技術(shu)條件》進行(xing)設計制造，可進行(xing)各種高(gao)(gao)低(di)(di)溫濕(shi)熱環境試(shi)(shi)驗。
本高(gao)低(di)(di)溫(wen)(wen)試(shi)驗(yan)箱滿足GB2423.1－2001試(shi)驗(yan)A《高(gao)溫(wen)(wen)試(shi)驗(yan)方法》; GB2423.2－2001試(shi)驗(yan)B《低(di)(di)溫(wen)(wen)試(shi)驗(yan)方法》以(yi)及其(qi)它相關標(biao)準的要求(qiu)。嚴格按(an)GB 10592—89《高(gao)低(di)(di)溫(wen)(wen)試(shi)驗(yan)箱技術(shu)條(tiao)件》進(jin)行(xing)設計制造，可進(jin)行(xing)相應(ying)高(gao)、低(di)(di)溫(wen)(wen)環境試(shi)驗(yan)。
北京高(gao)低溫(wen)試(shi)驗(yan)箱滿(man)足GB2423.1－2001試(shi)驗(yan)A《高(gao)溫(wen)試(shi)驗(yan)方法(fa)》; GB2423.2－2001試(shi)驗(yan)B《低溫(wen)試(shi)驗(yan)方法(fa)》以(yi)及其它相關(guan)標準的要求(qiu)。嚴(yan)格按(an)GB 10592—89《高(gao)低溫(wen)試(shi)驗(yan)箱技術條件》進行(xing)設計(ji)制造，可(ke)進行(xing)相應高(gao)、低溫(wen)環境試(shi)驗(yan)。
南京環科專(zhuan)業生產高低(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)箱，高低(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)箱*，有現貨。咨詢！
本高低溫(wen)試驗箱(xiang)可以用來考核(he)和確定電(dian)工電(dian)子產品或材料在溫(wen)度變化的(de)(de)(de)環境條件(jian)下貯存和使用的(de)(de)(de)適(shi)應性(xing)。設(she)備采用強(qiang)迫空(kong)氣循環來保(bao)持工作室內溫(wen)度的(de)(de)(de)均勻(yun)性(xing)。為(wei)限制輻射影響，設(she)備內壁(bi)各(ge)部分(fen)溫(wen)度與試驗規定的(de)(de)(de)溫(wen)度之差(cha)不(bu)(bu)大于8％，且(qie)試驗樣品不(bu)(bu)會受到(dao)設(she)備內加熱與冷卻元件(jian)的(de)(de)(de)直接輻射。
本低(di)溫(wen)(wen)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)滿足(zu)GB2423.1－2001試(shi)(shi)驗(yan)(yan)A《低(di)溫(wen)(wen)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)方法》; GB2423.2－2001試(shi)(shi)驗(yan)(yan)B《高溫(wen)(wen)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)方法》以及其(qi)它(ta)相關標(biao)準的要求。嚴格(ge)按GB 10592—89《高低(di)溫(wen)(wen)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)技術條件》進(jin)行設計制造，可進(jin)行相應高、低(di)溫(wen)(wen)環境試(shi)(shi)驗(yan)(yan)。
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